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    X射線熒光光譜儀的優點
  • 發布日期:2019-11-14     信息來源:      瀏覽次數:1038
    • X射線熒光光譜儀(XRF)是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。
       
      XRF用X光或其他激發源照射待分析樣品,樣品中的元素之內層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發的電子返回基態的時候,會放射出特征X光;不同的元素會放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波長特性。檢測器(Detector)接受這些X光,儀器軟件系統將其轉為對應的信號。這一現象廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在研究金屬,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化學研究、法醫學、電子產品進料品管(EURoHS)和考古學等領域,在某種程度上與原子吸收光譜儀互補,減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入。
       
      X射線熒光光譜儀優點: 
        
      a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
      b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
      c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
      d) X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
      e) 分析精密度高。
      f) 制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

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