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    X射線熒光光譜儀的軟硬件技術分析說明
  • 發布日期:2022-01-10     信息來源:公司新聞      瀏覽次數:299
    •    X射線熒光光譜儀主要由激發源和探測系統構成。其原理就是:X射線管通過產生入射X射線,來激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量或者波長。

       
        X射線熒光光譜儀的軟件技術:
        分析元素:Na~U之間元素。
       
        短分析時間:60秒。
       
        配置RoHS檢測分析模型,無鹵分析模型。
       
        軟件界面簡潔,模塊化設計,功能清晰,易操作。
       
        可配置鍍層分析模型、玩具指令等模型。
       
        軟件擁有數據一鍵備份,一鍵還原功能,保護用戶數據安全。
       
        根據不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測試度。
       
        配備開放式分析模型功能,客戶建立自己的工作模型。
       
        硬件技術:
        超短光路設計:提高無鹵檢測分辨率,提高樣品分析效率,降低光管功率,延長儀器使用壽命。
       
        模塊化準直器,根據分析元素,配備不同材質準直器,從而降低準直器對分析元素的影響,提高元素分辨率。
       
        e空氣動力學設計,加速光管冷卻,有效降低儀器內部溫度;靜音設計。
       
        電路系統符合EMC、FCC測試標準。
       
        快拆卸樣品臺,換薄膜更方便。

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