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    x射線測厚儀的產品優勢和具體的功能要求
  • 發布日期:2022-04-15     信息來源:公司新聞      瀏覽次數:68
    •    x射線測厚儀是一種專門應用于半導體材料、電子器件、微電子學、光通訊和數據儲存工業中的金屬薄膜厚度測量。測量更小、更快、更薄Ux-720比現有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速??蓽y試多鍍層,合金鍍層,能提供各類金屬層、合金層厚度的快速、準確、穩定、無損的測量。

       
        x射線測厚儀的產品優勢:
        1、可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。
       
        2、操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速出檢測結果。
       
        3、可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
       
        4、鍍層檢測,至多鍍層檢測可達5層,精度及穩定性高。
       
        5、激光定位和自動多點測量功能。
       
        6、可檢測固體、粉末狀態材料。
       
        7、運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低。
       
        x射線測厚儀具體的功能要求如下:
       ?。?)控制C型架拖動電機的運行,實現C型架的前進、后退以及精確定位等動作;
       
       ?。?)控制X光機快門的開關,監測測厚儀的電源、冷卻系統以及紅外傳感器的工作狀態,實現人機的安全聯鎖;
       
       ?。?)與數據采集系統進行通信,完成厚度數據以及工作狀態的傳遞,實現測厚儀的標準塊校正和標準模式下的測量控制;
       
       ?。?)控制標準塊驅動電機。在校正模式和標準模式下完成標準塊的正常旋轉;
       
       ?。?)設計簡單、高效的人機界面,監測系統的運行狀態,輸人系統的運行參數。

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